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              掃描場(chǎng)發(fā)射電鏡

              掃描場(chǎng)發(fā)射電鏡

              • 訪問量:5410
              • 更新日期:2025-09-10
              • 產(chǎn)品介紹:掃描場(chǎng)發(fā)射電鏡:為具有環(huán)境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡,可以將成像和分析全面性能與環(huán)境模式(ESEM)相結(jié)合,使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。
              • 廠商性質(zhì):代理商

              產(chǎn)品介紹

              品牌FEI/賽默飛產(chǎn)地類別進(jìn)口
              價(jià)格區(qū)間面議儀器種類場(chǎng)發(fā)射
              應(yīng)用領(lǐng)域化工,石油

              掃描場(chǎng)發(fā)射電鏡簡(jiǎn)介:

              為具有環(huán)境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡,可以將成像和分析全面性能與環(huán)境模式(ESEM)相結(jié)合,使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。

              場(chǎng)發(fā)射電子槍(FEG)確保了優(yōu)異的分辨率,通過不同的探測(cè)器選項(xiàng),可以調(diào)節(jié)不同襯度信息,包括定向背散射、STEM和陰極熒光信息。來自多個(gè)多個(gè)探測(cè)器和探測(cè)器區(qū)分的圖像可以同步采集和顯示,使得單次掃描即可獲得樣品信息,從而降低電子束敏感樣品的束曝光并實(shí)現(xiàn)真正額動(dòng)態(tài)試驗(yàn)。Quattro的三種真空模式使得系統(tǒng)具有靈活性,可以容納廣泛的樣品類型,無論樣品導(dǎo)電、絕緣、潮濕或是在高溫條件下,均可獲得可靠的分析結(jié)果。Quattro的硬件有用戶向?qū)еС郑粌H可以指導(dǎo)操作者,還可以直接進(jìn)行交換,輕松縮短結(jié)果獲取時(shí)間。


              掃描場(chǎng)發(fā)射電鏡參數(shù):

              金屬及合金、斷口、焊點(diǎn)、拋光斷面、磁性及超導(dǎo)材料
              陶瓷、復(fù)合材料、塑料
              薄膜/涂層
              地質(zhì)樣品斷面、礦物
              軟材料:聚合物、藥物、濾膜、凝膠、生物組織、植物材料
              顆粒、多孔材料、纖維
              水合/脫水/濕潤(rùn)/接觸角分析
              結(jié)晶/相變
              氧化/催化
              材料生成
              拉伸(伴隨加熱或冷卻)


              發(fā)射源:高穩(wěn)定型肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍

              分辨率:

              型號(hào)

              Quattro C

              Quattro S

              高真空

              30kV(SE)

              1.0nm

              1kV(SE)

              3.0nm

              低真空

              30kV(SE)

              1.3nm

              3kV(SE)

              3.0nm

              30kV(BSE)

              2.5nm

              環(huán)境掃描模式

              30kV(SE)

              1.3nm


              放大倍率:6 ~ 2,500,000×
              加速電壓范圍:200V ~ 30kV
              探針電流范圍:1pA – 200nA,連續(xù)可調(diào)
              X-Ray工作距離:10mm,EDS檢出角35°
              樣品室:從左至右為340mm寬的大存儲(chǔ)空間,樣品室可拓展接口數(shù)量12個(gè),含能譜儀接口3個(gè)(其中2個(gè)處于180°對(duì)角位置)


              樣品臺(tái)和樣品:

              掃描場(chǎng)發(fā)射電鏡

              探測(cè)器系統(tǒng):

              同步檢測(cè)多達(dá)四種信號(hào),包括

              樣品室高真空二次電子探測(cè)器ETD
              低真空二次電子探測(cè)器LVD
              氣體SED(GSED,用于環(huán)境掃描模式)
              樣品室內(nèi)IR-CCD紅外相機(jī)(觀察樣品臺(tái)高度)
              可用于樣品導(dǎo)航的彩色光學(xué)相機(jī)Nav-Cam™


              控制系統(tǒng):
              操作系統(tǒng):64為GUI(Windows10)、鍵盤、光學(xué)鼠標(biāo)
              圖像顯示:24寸LCD顯示器,WUXGA 1920×1200
              定制化的圖像用戶界面,可同時(shí)激活多達(dá)4個(gè)視圖
              導(dǎo)航蒙太奇
              軟件支持Undo和Redo功能


              特點(diǎn)與用途:

                  在自然狀態(tài)下對(duì)材料進(jìn)行預(yù)案為研究,具有環(huán)境真空模式(ESEM)的*高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡;

                  縮短樣品制備時(shí)間:低真空和環(huán)境真空技術(shù)可針對(duì)不導(dǎo)電和/或含水樣品直接成像和分析,樣品表面無荷電累積;
                  在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品,同步獲取二次電子像和背散射電子像;
                  優(yōu)良的分析性能,樣品倉可同時(shí)安裝3三個(gè)EDS探測(cè)器,其中2個(gè)EDS端口分開180°、WDS和共勉EDS/EBSD;
                  針對(duì)不導(dǎo)電樣品的分析性能:憑借“壓差真空系統(tǒng)"實(shí)現(xiàn)低真空模式下的EDS和EBSD分析;
                  靈活、準(zhǔn)確的優(yōu)中心樣品臺(tái),105°傾斜角度范圍,可多方位觀察樣品;
                  軟件直觀、簡(jiǎn)便易用,并配置用戶向?qū)Ъ癠ndo(撤銷)功能,操作步驟減少,分析更快速;
                  全新創(chuàng)新選項(xiàng),包括可伸縮RGB陰極熒光(CL)探測(cè)器、1100℃高真空熱臺(tái)和AutoScript。



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